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Centro de Investigación en Materiales Avanzados
Chihuahua, Chihuahua
El Centro de Investigación en Materiales Avanzados, S. C. (CIMAV) es una institución integrada al Sistema Nacional de Centros Públicos CONACYT, fue fundado en la ciudad de Chihuahua en octubre de 1994 y su creación se origina por acuerdo entre el Gobierno Federal, el Gobierno del Estado de Chihuahua y Canacintra Delegación Chihuahua, lo que ha conferido características particulares que han modulado de manera afortunada el proceso de su desarrollo.

Contamos con el personal altamente especializado el cual lleva acabo investigación básica orientada, aplicada y desarrollo tecnológico, con el fin de satisfacer la demanda científica, tecnológica y académica del pais, de acuerdo a once lineas de investigación y dos programas académicos institucionales.

Misión
Realizar investigación científica, desarrollo tecnológico y formación de recursos humanos en Ciencia de Materiales y del Medio Ambiente con criterios de excelencia, para impulsar el desarrollo sustentable regional y nacional de los sectores productivo y social.

Visión
Ser líder nacional con reconocimiento internacional en investigación, educación, ciencia y tecnología de materiales y ambiental.


Equipo disponible
Analizador simultáneo TGA-DTA
Analizador térmico diferencial DTA de 1600°C
Analizador Termogravimétrico TGA automuestreador
Analizador Termomecánico TMA
Difractómetro de Rayos-X
Equipo de calorimetría diferencial de barrido DSC
Equipo de Deposición por Erosión Catódica (Sputtering)
Equipo de Haz de Iones Focalizados
Equipo de Temple giratorio (melt spinner) para la fabricación de cintas nanocristalinas y amorfas
Espectrómetro de Microfluorescencia de Rayos-X
Espectrómetro Mössbauer con fuente de Co57 en matriz de Rodio, actividad inicial 50 mCi
Gaussímetro Walter Scientific MG-3D
Horno de Arco para la fabricación de aleaciones metálicas
Magnetómetro de campos magnéticos pulsados 20 Tesla (77 K-300 K)
Magnetómetro de Muestra Vibrante
Microscopio de Fuerza Atómica
Microscopio Electrónico de Barrido
Microscopio Electrónico de Barrido de Emisión de Campo
Microscopio Electrónico de Transmisión
Microscopio Electrónico de Transmisión de Emisión de Campo, JEM-2200FS
Susceptómetro de corriente alterna
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